日本电子扫描电子显微镜JASM-6200(ASEM)是和在其上方设置的光学显微镜构成,能够在大气压下观察样品.

FEI扫描电镜Verios XHR SEM是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品.在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需.

JSM-IT100 提供的直观操作，同样也适用于EDS分析，利用 EDS 导航器能顺利地进行定量分析、定性分析和元素面分布，只需很少的步骤就可执行丰富的分析功能，新手也能轻松驾驭。

JSM-IT300扫描电子显微镜经过改进照射系统、真空系统和信号处理系统，不仅能观察高质量的图像，还能利用触控屏和快速样品台进行高通量的直观操作。

最先进的台式扫描电子显微镜日本电子JCM-6000Plus。按下装置的分析按钮，就能开启 EDS 视窗。EDS 能支持定性 / 定量分析、点分析和元素面分析（确认元素分布）。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7200F标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7800FPRIME电子枪和低像差聚光镜的优化组合，实现了更高的亮度，能有效采集电子枪中发射的电子，即使在低加速电压下也能获得几pA～数10 nA 探针电流，

日本电子场发射扫描电镜JSM-7800F配备了新开发的超级混合式物镜(SHL)，在保持极高的可操作性的同时，实现了低加速电压下的高分辨率。能量过滤器位于高位检测器 (UED)的正下方，可以选择能量。即使在低加速电压下，也能够精确地选择二次电子和背散射电子。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F照明系统采用High Power Optics（高性能电子光学系统），可以进行高分辨率、高精度的快速元素分析。配合Gentle Beam （GB模式即柔和光束），可以用几百电子伏的入射电子束观察样品的浅表面。