日本电子透射电镜JEM-ARM300F
STEM-HAADF像的保证分辨率达到了63pm
采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm
（300kV,高分辨率靴、使用STEM球差校正器时）。
强大的冷场发射电子枪HyperCF300
标配了新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
7*12小时服务热线（业务咨询）：400-099-6011
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采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm
（300kV,高分辨率靴、使用STEM球差校正器时）。
标配了新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜靴。
整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的
技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。
标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV〜300kV，使用范围广。
排气系统达到了高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，大限度地减轻了对样品的污染和损伤。
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