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清洁度检测仪

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产品参数

产品编号: 清洁度分析系统BH-CIA500所属品牌: BAHENS
产品型号: BH-CIA500 额定功率:按实际方案提供
所属类别: 清洁度检测仪所属用途: 显微观察
应用领域: 机械制造
产品特性: 清洁度分析系统BH-CIA500按照各种国内及国际标准:包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等,以及客户自定义的标准,自动生成专业的清洁度评级和分析报告。

BAHENS清洁度分析系统BH-CIA500

 

显微镜

 

BAHENS光学显微镜(ISO16232规定),放大50倍-500倍,既可做清洁度检测。

 

 

检测内容
 

▪ 杂质平面尺寸

▪ 杂质高度

▪ 杂质数量

▪ 杂质形状分类:颗粒或纤维

▪ 杂质性质分类:反光(金属),亚光(非金属,金属氧化物)

 
 

多种自动聚焦算法
 

 

▪ 支持多种聚焦模式:补偿聚焦、跟踪聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。

 

▪ 采用至新的聚焦算法,保证在试样不够平整的情况下也能得到清晰的图像;

 

▪ 准确模式可以轻松辨认原本会产生误判的亚光色金属颗粒(绿色包围部分),用偏振光照射,记录在两个情况下进行比较,然后用于准确区分金属和非金属颗粒。

 
 
至小颗粒分辨率
 

 

▪ 目镜:大视场双目观察,观察视域大而舒服。

放大倍数10倍,视场指数22毫米,三目镜筒55-75mm可调瞳距。

 

▪ 物镜:高性能高反差平场物镜,镀膜防霉。

5X,10X,20X,50X

 
 

统计与分析
 

 

▪ 系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。同时支持修改颗粒。

▪ 提供多种统计分析工具:MAP图、颗粒列表、统计结果、直方图等;

▪ 支持模板化报告生成模式,包含统计数据、评级、滤片全貌图、至大颗粒照片等信息;

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