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JEM-2800采用新设计的电子光学系统，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，观察模式
如TEM（透射像）、STEM（扫描透射像）、SEM（二次电子像）及ED（电子衍射）模式
可在瞬间相互切换，还能在明亮的房间观察图像。 此外，扫描图像模式可以同时观察
STEM-BF像、STEM-DF像和二次电子像。利用这些功能，操作者可根据目的，利用感兴
趣的观察模式，从大范围的样品结构到亚纳米的晶格像都能够方便地获得。
JEM-2800具有电镜观测所需要操作的各种自动功能（调整图像的衬度/亮度、样品高度（Z）、晶体取向、聚焦及象散），这些功能可以不受操作者熟练程度影响，获取重现性好的数据。
此外，由于标准配置了涡轮分子泵，缩短了样品交换的时间，插入样品杆约30秒钟后，就能开始观察。
为使初学者也能够放心地正确操作，还标准配置JEM-Navi™用户导航系统，包括获取数据所需要的操作指南和视频。
JEM-2800不仅可以进行高通量的观察，还能进行高通量的元素分析，由于采用日本电子制造
的100mm²大面积硅漂移检测器（Silicon Drift Detector：SDD）*1，能够获得0.95sr 的
大固体角，可以进行远远高于原来速度的、效率的X射线分析并且不牺牲电子显微镜的功能。
此外，为了能在短时间内获得准确的分析结果，JEM-2800能根据样品及分析方法选择束
班直径。
*1 : 选配
为了响应众多客户的需求，JEM-2800采用了总的数据管理系统，能够迅速生成分析结果报告。JEM-2800获取的图像和分析数据通过LAN（局域网）会自动传送到数据集成管理软件（Image Center*2）。此外，从PC客户终端访问，可以有效率执行测长（使用Image Excite*2）及粒径分析（使用Region Gauge Center*2），通过数据整理软件（Image Import※2）能简便地生成报告书。
*2 : 日本株式会社SYSTEM IN FRONTIER 制造
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