原子分辨分析型透射电镜JEM-ARM200F|日本电子透射电镜|上海百贺仪器

产品参数 产品编号: 日本电子原子分辨分析型透射电镜JEM-ARM200F所属品牌: 日本电子 产品型号: JEM-ARM200F 额定功率：按实际方案提供 所属类别: 日本电子电镜所属用途: 显微观察 应用领域: 所有工业领域 产品特性: 日本电子原子分辨分析型透射电镜JEM-ARM200F扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率（0.078nm）。 JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器，是一款原子分辨分析型透射电镜。 下载相关资料

标配照明系统球差校正器，且大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性，STEM-HAADF像分辨率（78pm^*1、82pm^*2）。

此外经过球差校正的电子束与一般的场发射透射电镜相比，电流密度可以高出十倍。使

用束斑更小、电流密度更大的电子束，能在进行原子水平的元素分析同时,大幅度地缩短

测试时间，提高分析效率。

*1 配备冷场发射电子枪

*2 配备肖特基场发射电子枪

JEM-ARM200F标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式，通过STEM-ABF像能直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列，还可以同时获取STEM-HAADF像，在样品结构的分析中能够发挥巨大威力

JEM-ARM200F配备日本电子制造的100mm²的大面积硅漂移检测器(Silicon Drift Detector:SDD)^*3，

可以进行快速、高灵敏的EDS元素分析，与经过球差校正的电子束流组合，能进行原子级的元素面分布，

在原子水平的分辨率下进行成份分析。

*3 选配

冷场发射电子枪(Cold-FEG)*4配备新开发的真空系统，与传统的冷场发射电子枪不同，Flashing操作后可以马上使用。由于光源小可以获得更高分辨率的图像。此外冷场发射电子枪的能量发散度小，不仅能进行高分辨率的EELS分析，还能降低色差。

*4 选配

使用成像系统的球差校正器*5，透射电子像(TEM)的分辨率可以高达110pm。

*5 选配

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