日本电子超高压透射电镜JEM-1000
一般的透射电子显微镜样品由于薄,失去了块状材料的性质,有效利用高
压透射电子显微镜能观察厚样品的特长,能保持块状样品原来的性质进行观察,
特别是充分利用物镜靴之间的间隙所获得的空间,使气体氛围下的原位
观察和样品大角度倾斜的三维观察在小型试验室的显微镜内得到了实现。
一般的透射电子显微镜样品由于薄,失去了块状材料的性质,有效利用高
压透射电子显微镜能观察厚样品的特长,能保持块状样品原来的性质进行观察,
特别是充分利用物镜靴之间的间隙所获得的空间,使气体氛围下的原位
观察和样品大角度倾斜的三维观察在小型试验室的显微镜内得到了实现。
由于高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使加大物镜靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即使厚样品也能观察到清晰的图像,这是高压透射电子显微镜的至大优点。
STEM图像对于厚样品的三维观察非常有效,特别是对微米级厚样品的三维观察能发挥威
力。 具有这些功能的JEM-ARM1000在新材料的开发和生物医学研究中是重要的的装置
之一。
JEM-ARM1000 被世界各国的研究所、大学等机构用于生物医学、材料开发等科学的
研究。
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