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扫描电镜

首页 > 产品中心 > 扫描电镜 > 日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F

产品参数

产品编号: 日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F所属品牌: 日本电子
产品型号: JSM-7610F 额定功率:按实际方案提供
所属类别: 扫描电镜所属用途: 光谱元素分析
应用领域: 金属
产品特性: JSM-7610F是一款半浸没式(semi-in-lens)高分辨率场发射扫描电镜,照明系统采用High Power Optics(高性能电子光学系统),可以进行高分辨率、高精度的快速元素分析。配合Gentle Beam (GB模式即柔和光束),可以用几百电子伏的入射电子束观察样品的浅表面。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F

日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F通过半浸没式(semi-in-lens)物镜进行高分辨率观察和分析

半浸没式(semi-in-lens)物镜在低加速电压下也能将电子束聚焦得很细;浸没

式(in-lens)肖特基场发射电子枪寿命长,能获得稳定的电流,这两者的结合既

兼顾了高分辨率观察同时也能够进行高空间分辨率分析。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F

通过GB模式, 以能量极低的入射电子束观察样品的浅表面

 

 

通过给样品加以偏压并照射电子束,能够利用分辨率高于一般模式的Gentle Beam模式 ,以几百电子伏的入射电子对样品的浅表面进行高分辨率观察,这是迄今为止未能实现的。

日本电子场发射扫描电镜JSM-7610F

高性能电子光学系统能进行快速、高精度的分析

 

 

电子光学系统采用了高性能电子光学系统。不仅能进行高分辨率观察还

可以进行稳定、快速、高精度的元素分析。

 

扩展性

▪ 可插拔式背散射电子检测器 (RBEI)
▪ 低角度背散射电子检测器 (LABE)
▪ 扫描透射电子检测器 (STEM)
▪ 样品台导航系统
▪ 离子清洗装置
▪ 能谱仪(EDS)
▪ 波谱仪 (WDS)
▪ 阴极荧光检测器
▪ 各种样品架

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