全新的自动化设计理念，确保红外显微分析涉及到的全部步骤都能快速、简单的自动执行。

全自动异物分析系统

▪ 大视野相机

▪ 异物位置自动识别

▪ 异物光谱自动解析

▪ 高灵敏度

▪ 异物分析

▪ 表面分析

▪ 微小样品分析

测量位置自动识别

提供异物自动识别功能。分析人员仅需点击一下按钮，软件即可自动识别异物。并且可

在1秒钟之内自动设置好全部测量点适用的显微光阑尺寸和角度。包括两种模式：标准

模式和小样品模式。用户可以根据自己的应用来选择合适的模式。自动识别的测量点可

不经编辑直接开始自动测量，也可以由分析人员来选择性的增删测量点。样品可见图像

自动存入测得的光谱文件中，方便日后快速区分指认。

应用

电子电器

图1是电子器件端子上附着异物的分析例。利用大视野相机，观察器件整体，决定对哪个部位

进行测量。对薄的污渍或小的外来异物，反射方法谱图质量不好时，可以考虑使用Ge晶体的

显微ATR测量。

机械和运输

图2是长期暴露在日光下的树脂部件分析例。通过对部件截面红外光谱的测量，深度方向上的

降解程度实现了可视化。

制药和生命科学

图3是附着在药片表面异物的分析例。通过挑入金刚石池中进行挤压，可以对不同形状的样品

进行显微透射测量。

石油化工

图4是薄膜偏振分析的例子。利用红外偏振片，可以评估薄膜的偏振特性和取向。